<xmp id="oiw00">
<menu id="oiw00"><menu id="oiw00"></menu></menu>
<xmp id="oiw00">
  • <menu id="oiw00"></menu>
    <menu id="oiw00"><code id="oiw00"></code></menu><xmp id="oiw00"><menu id="oiw00"></menu>
  • 产品详情
    • 产品名称:x荧光镀层测厚仪器Ux-720

    • 产品型号:
    • 产品厂商:华唯
    你添加了1件商品 查看购物车
    简单介绍:
    上海铸金分析仪器有限公司可提供多系列的涂层测厚仪、镀层厚度检测仪等形貌测量仪器。x荧光镀层测厚仪器Ux-720是具有较高精度的国产x荧光测厚仪。x荧光镀层测厚仪器Ux-720
    详情介绍:
    x荧光镀层测厚仪器Ux-720产品功能:
    1. Ux-720国产镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果佳。
    2. 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
    3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
    4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
    5. Ux-720镀层测厚仪采用了FlexFp -Multi技术,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果可靠。
    6. 样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
    设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
    7. 软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
    x荧光镀层测厚仪器Ux-720产品指标:
    测厚技术:X射线荧光测厚技术
    测试样品种类:金属镀层,合金镀层
    测量下限:0.003um
    测量上限:30-50um(以材料元素判定)
    测量层数:10层
    测量用时:30-120秒
    探测器类型:Si-PIN电制冷   
    探测器分辨率:145eV
    高压范围:0-50Kv,50W
    X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
    光管靶材:Mo靶;
    滤光片:专用3种自动切换;
    CCD观察:260万像素
    微移动范围:XY15mm
    输入电压:AC220V,50/60Hz
    测试环境:非真空条件
    数据通讯:USB2.0模式
    准直器:?1mm,?2mm,?4mm
    软件方法:FlexFP-Mult
    工作区:开放工作区 自定义
    x荧光镀层测厚仪器Ux-720标准配件:
    样品固定支架1支
    窗口支撑薄膜:100张
    保险管:3支
    计算机主机:品牌+双核
    显示屏:19寸液晶
    打印机:喷墨打印机
    x荧光镀层测厚仪器Ux-720可选配件:
    可升级为SDD探测器
    标题:
    内容:
    联系人:
    联系电话:
    Email:
    公司名称:
    联系地址:
     
     
    注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
    2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

    沪公网安备 31011302004634号

    丰满乱子伦无码专区,美女裸体啪啪拍18禁无遮挡,日韩无码电影,欧美激性欧美激情在线